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Aufgrund der beschriebenen Forschungslücke wurden verschiedenen Optionen zur Messbarmachung des Konstrukts auf der Mikroprozessebene recherchiert und auf kurze Sitzungssequenzen angewendet. Alle relevanten Materialien sind im Anhang A.1 des elektronischen Zusatzmaterials einsehbar.

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  • 发表日期：

    2025年

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  • Michael Kelber

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Aufgrund der beschriebenen Forschungslücke wurden verschiedenen Optionen zur Messbarmachung des Konstrukts auf der Mikroprozessebene recherchiert und auf kurze Sitzungssequenzen angewendet. Alle relevanten Materialien sind im Anhang A.1 des elektronischen Zusatzmaterials einsehbar.