In diesem Kapitel werden traditionelle und moderne Ansätze zur Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Systeme vorgestellt. Klassische Methoden, wie standardisierte Ausfallratenberechnungen, werden mit simulationsbasierten Ansätzen verglichen, die physikalische Alterungsmechanismen berücksichtigen. Dabei liegt der Fokus auf der Verbindung zwischen Belastungsprofilen und den daraus resultierenden Materialdegradationseffekten. Es wird betont, wie wichtig simulationsbasierte Modelle sind, um die Auswirkungen komplexer, realer Einsatzbedingungen besser zu verstehen und vorherzusagen. Die Transformation von klassischen Modellen hin zu Multi-Domänen-Simulationen wird als wesentlicher Fortschritt herausgestellt, um detaillierte Aussagen über die Alterung und Lebensdauer von Bauteilen zu treffen.