Correction: Application of Mask R-CNN and YOLOv8 algorithms for defect detection in printed circuit board manufacturing

期刊论文
出版模式：

开放获取
发表日期：

2025年4月23日

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Maurizio Calabrese,
Leonardo Agnusdei,
Gianmauro Fontana,
Gabriele Papadia,
Antonio Del Prete

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